Search papers

Article details

  • Materiały Ceramiczne/Ceramic Materials
  • Vol: 65, Issue: 1, 2013
  • pp: 28-30

download: article (PL)

Investigation of glass surface using ion beam

Abstract (EN)

The surface of sodium aluminosilicate glass was analysed by means of secondary ion mass spectrometry (SIMS). An influence of oxygen and argon ion beams on depth profiles of particular glass constituents was investigated. The results obtained were interpreted on the basis of the mechanical and field interactions of the ion beam with the glass surface.

Keywords (EN): Glass, Ion beam, SIMS depth profiles

Badanie powierzchni szkła wiązką jonów

Tuleta M.

Abstract (PL)

Powierzchnia szkła sodowo glinokrzemianowego była analizowana za pomocą spektrometrii masowej jonów wtórnych (SIMS). Badano wpływ wiązki jonów tlenu i argonu na profile głębokościowe poszczególnych składników szkła. Otrzymane wyniki interpretowano w oparciu o mechaniczne i polowe oddziaływanie wiązki jonów z powierzchnią szkła.

Keywords (PL): szkło, wiązka jonów, profile głębokościowe SIMS

return…